توجه توجه
تمامی مقالات ترجمه شده در قالب فایل ورد (Word) ارائه میشوند.
الگوی تست LFSR برای عیب یابی و تشخیص سلولهای FPGA CLB
لینک دانلود فایل خریداری شده، بلافاصله بعد از پرداخت آنلاین فعال میشود.
LFSR TEST PATTERN FOR FAULT DETECTION AND DIAGNOSIS FOR FPGA CLB CELLS
ABSTRACT
The increasing growth of sub-micron technology has resulted in the difficulty of VLSI testing. Test and design for testability are recognized today as critical to a successful design. Field Programmable Gate Arrays (FPGAs) have been used in many areas of digital design. Because FPGAs are reprogrammable, faults can be easily tolerated once fault sites are located. In this paper, we discuss about fault detection and fault diagnosis techniques for FPGA CLBs. The most of the discussion will be made using Configurable Logic Block (CLB) instead of whole FPGA for simplicity. In order to generate testing pattern we aid Linear Feedback Shift Register (LFSR). Fault detection and location will be carried out using output response analyzer. Diagnosis will be discussed accordingly. For this analysis we have taken XC4000 FPGA. VHDL is used as HDL language.
KEYWORDS: FPGA, CLB, LFSR, XC4000, VHDL
دانلود رایگان مقاله انگلیسی 363.59 KB
چکیده
رشد روز افزون فناوری زیر میکرون باعث ایجاد مشکلاتی در تست VLSI شده است. تست و طراحی الگوی تست امروزه به عنوان بحرانی در دستیابی به یک طرح موفق شناخته شده است. گیت های برنامه پذیر یا همان FPGA ها در بسیاری طراحی های دیجیتالی استفاده می شود، چون این دسته از سخت افزارها گیتهای برنامه پذیر هستند که تحمل خطا را دارند.. در این مقاله، ما در مورد عیب یابی و تشخیص خطا FPGA CLBs. بحث و گفتگو خواهیم کرد همانطور که میدانیم برای تولید الگوی آزمایش از مولد الگوی آزمایش استفاده میکنیم . خطا و محل خطا با استفاده از تجزیه و تحلیل پاسخ خروجی تشخیص داده خواهد شد.. برای این تجزیه و تحلیل،از ابزارهای XC4000 FPGA وVHDL استفاده میشود.
تعداد صفحات انگلیسی: 7 صفحه
تعداد صفحات فارسی ترجمه شده: 9صفحه